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景县四探针电阻率测定仪

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景县四探针电阻率测定仪

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-20 08:58

景县四探针电阻率测定仪

景县四探针电阻率测定仪


四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;

基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。

精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%

整机测量大相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%

四位半显示读数;八量程自动或手动测试;

测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;

正反向电流源修正测量电阻误差

恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。

可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。

校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.

具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。

3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据

软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分

析。

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

景县四探针电阻率测定仪

BEST-300C导电材料电阻率测定仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.

探针笔测试结束,套好护套,避免人为断针

测量精度±(0.1%读数)

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量依据不同之测试样品,选择被测试电流,电流设置:按方向键移动光标至“电流"功能,按“设置"键进入;再按“左右"方向键选择电流数据,选择完毕后按“确定"键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量

以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针方阻测试步骤上述步骤中1项,使用前期准备

测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。

把样品放于固定治具夹口内,把HD和LD接口分别与治具接口连接(不分顺序)如图3;另外两个接口与探头接线位置连接,后,放入被测样品,输入高度数据(为探针之间的间距),其他数据为样品本身尺寸。

景县四探针电阻率测定仪

测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。

参照标准:硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).

分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV

中、英文界面

如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。

材料电阻测试步骤:操作步骤及流程

景县四探针电阻率测定仪

量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,

探针间距数据的输入,探针间距出厂时已经标定,无需再次测量,探针头上有详细的探针数据资料,探针间距的设置:将光标移动至“探针间距"按“设置"键进入,通过面板上面的“数字"按键输入数据按“确定"键进行确认;按照以上方法和步骤设定"厚度“,注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中,自动修正,无需再次输入和查询表格。

安全守则操作人员随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。

四探针电阻率检测仪步骤及流程开启电源,预热5分钟.装配好探头和测试平台.设定所需参数.测量样品导出数据.

测量误差±5%测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V

测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上,调节探头探针与样品良好接触,探头有二种,一种是探针是弹簧针型,一种是硬针而探头内腔有弹簧;探头有方型和直线型两种结构;调节测试平台上的水平定位角,保证水平仪水准在中心位置;放置好被测物品,后压下探头至被测物,带数据稳定后读取

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量

EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,

景县四探针电阻率测定仪

本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。

一般目前的四探针电阻率(电导率)测试仪均已配置厚度的修正,通过厚度数值的设置,计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,zui常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV

如图3接线方式,把主机与夹具连接线,连接好并固定住,

检查电源线是否接触良好;检查后面板上的电源开关是否已经打开

仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

景县四探针电阻率测定仪

四探针电阻率方块电阻测试仪适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

在开机界面按下按键板上的“显示"键,进入测量界面。如图1如图2,在液晶显示屏右侧有4个蓝色功能按键,当测材料电阻率时,请选择 “材料"按键 ,进入材料测试主界面.

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,

把样品放于固定治具夹口内,把HD和LD接口分别与治具接口连接(不分顺序)如图3;另外两个接口与探头接线位置连接,后,放入被测样品,输入高度数据(为探针之间的间距),其他数据为样品本身尺寸。

如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。

测试功能:可选择:“RρK"(显示电阻,电阻率,电导率),“R"(只显示电阻),“ρ"(只显示电阻率,“K"(只显示电导率)3种显示模式。

景县四探针电阻率测定仪

安全要点非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。万一发生问题,请立即关闭电源并及时处理故障原因。

以下设置和功能属于配置操作软件机型使用,如您购买的无电脑操作软件的话,请勿设置.

电阻测量范围: 电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

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